一、小麻雀二手系列镀层测厚仪产品介绍: 小麻雀二手系列镀层测厚仪旨在应对**薄镀层的挑战,例如当今不断缩小的电子元器件的镀层。其提供快速、准确和可重复的结果,有校提高生产力,同时减少PCB、半导体和微型接口等元器件上镀层不合规所带来的成本浪费。小麻雀二手系列镀层测厚仪易于使用、可轻松集成质量保证/质量控制流程,在问题引发危机之前及时发出提醒。 小麻雀二手系列镀层测厚仪采用了新款高分辨率样品观察相机和改进的照明,样品的预览和测量点的选择变得更加清晰和简便。 二、小麻雀二手系列镀层测厚仪特点: 1、高性能XRF镀层测厚仪,适用于**小部件上的**薄镀层分析; 2、使用多毛细管光学聚焦系统,光斑尺寸<50um; 3、数秒间测试纳米级镀层厚度; 4、简单易用的操作软件; 5、强大的数据处理能力。 三、产品硬件配置: 整体结构化设计,仪器美观大方。 采用美国新型的SDD探测器,电致冷而非液氮制冷,体积小、数据分析准确且维护成本低。 采用*的SES信号处理系统(数字多道),有效提高峰背比,让测量更精准。 一键式自动测试,使用更简单,更方便,界面更人性化。 多重防辐射泄露设计,辐射防护级别属于同类产品**级。 元素分析范围从硫(S)到铀(U); 元素含量分析范围为1PPm到99.99%; 测量时间:30-60秒(可调); 同时分析镀层层数:较多可达5层 镀层检测厚度:0.005-50μm(视材料类型而有所不同) 能量分辨率为129±5e电子伏特; 温度适应范围为15℃至30℃; 四、小麻雀二手镀层测厚仪 特长 X射线荧光镀层厚度测量仪使用新开发的X射线聚光用多毛细管的产品阵容诞生了。另外,以X射线检测结构为中心,对各类元件进行较佳优化,从而大幅提高了检测灵敏度,在不损失检测精度的前提下实现了的高处理能力。并且,对设备进行了重新设计,使得样本室的使用,以及对检测点的检查变得更为*。 1.显微领域的高精度检测 通过采用新开发的多毛细管,以及对探测器的优化,在实现照射半径等同于旧有型号FT9500X为30 μm(设想FWHM: 17 μm)的基础上,进一步将处理能力提高到了2倍以上。 2.产品阵容适应各类检测样本 针对检测样本的不同种类,可在下列3种型号中进行选择。 测量引线架、连接器等各类电子元器件的微型部件、**薄薄膜的型号 能够处理尺寸为600 mm×600 mm的大型印刷电路板的大型印刷电路板用型号。适合对陶瓷芯片电极部分中,过去难以同时测量的Sn/Ni两层进行高能测量的型号 3.兼顾易操作性与安全性 放大了开口,同时样本室的门也可单手轻松开闭。从而提高了取出、放入检测样本的操作简便性,并且该密封结构也大大减少了X射线泄漏的风险,让用户放心使用。 4.检测部位可见 通过设置大型观察窗、修改部件布局,使得样本室门在关闭状态下亦可方便地观察检测部位。 5.清晰的样本图像 使用了分辨率比以往更高的样本观察摄像头,采用全数码变焦,从而消除位置偏差,可以清晰地观察数十μm的微小样本。 另外,亦采用LED作为样本观察灯,*像以往的机型那样对灯泡进行更换。 6.新GUI 将各类检测方法、检测样本都以应用程序图标的形式进行了登记。图标皆为检测样本的照片、多层膜的图示等,因此登记、整理起来就很方便,从而使得用户可以不走弯路,直接进行检测。使用检测向导窗口来指导操作。通过与检测画面联动,逐步引导用户执行当前所需进行的工作。